電磁兼容檢測
電磁兼容實驗室是為了進行電磁兼容試驗而建立的一類特殊的實驗室。首先解釋一下電磁兼容的基本概念:指電磁系統(tǒng)、分系統(tǒng)在各自的電磁環(huán)境中能正常工作而不因受到電磁干擾降低工作性能的能力。
電磁兼容檢測更多介紹
一、電磁兼容檢測簡介
電磁兼容實驗室是為了進行電磁兼容試驗而建立的一類特殊的實驗室。首先解釋一下電磁兼容的基本概念:指電磁系統(tǒng)、分系統(tǒng)在各自的電磁環(huán)境中能正常工作而不因受到電磁干擾降低工作性能的能力。為了驗證電子電機設備EMC設計是否良好,必須在研發(fā)之整個過程中,對各種電磁干擾源之發(fā)射干擾、傳輸特性及受干擾設備能否負荷耐受性測試,驗證設備是否符合相關電磁兼容性標準和規(guī)范。
二、安磁檢測——電磁兼容實驗室介紹
安磁檢測電磁兼容實驗室已在華南地區(qū)建立了完備的電磁兼容(EMI,EMS)能力,擁有1個10m法電波暗室,4個3m法電波暗室,5個屏蔽室及EMS抗干擾室;其中10m法和一座9*6*6滿足醫(yī)療設備EMC測試要求,最大電壓電流可達380V/200A(三相)和1000V/200(DC),測試能力廣,測試數(shù)據(jù)準,可為廣大電子廠商提供完整的CE、FCC、VCCI等國家EMC法規(guī)和預測試服務。
三、電磁兼容認證項目
美洲:FCC SDOC、FCC ID、ISED、ISED ID等;
歐洲:CE-EMC、E-Mark等;
亞洲:CCC、CQC、BSMI、KC、VCCI、PSE等;
澳洲:C-TICK、RCM等;
四、電磁兼容檢測項目及標準
電磁兼容性測試包含電磁干擾測試(EMI)及電磁耐受性測試(EMS)。電磁兼容標準,要求電子電機設備相關產(chǎn)品必須符合輻射干擾與傳導干擾發(fā)射規(guī)格,以及輻射耐受性與傳導耐受性規(guī)格。
(一)電磁干擾(EMI,包括CE 及RE),測試主要內(nèi)容有:電子電機產(chǎn)品和設備在各種電磁雜訊環(huán)境中之傳導干擾和輻射干擾發(fā)射量之測試及各種訊號傳輸時,干擾傳遞特性之測試。
(二)電磁耐受性(EMS,包括CS 及RS)測試主要內(nèi)容則有:
1.對電場、磁場之輻射耐受性測試;
2.對電源線、控制線、訊號線、地線等注入干擾之傳導耐受性測試;
3.對靜電放電和各種暫態(tài)電磁波(突波或電性快速暫態(tài))之耐受性測試。
測試項目 |
標準 |
空間輻射(Radiation) |
CISPR32 & 11 &14-1 &15, EN55032 & 11 &14-1 &15, AS/NZS CISPR32 & 11 &14-1 &15, KN32 & 11 &14-1 &15, ICES-003 & ICES-005&ICES-001, FCC Part15 & 18, VCCI, GB/T9254, GB/T13837, GB/T17743, GB4343.1,GB 4824 |
傳導干擾(Conduction) |
CISPR32 & 11 &14-1 &15, EN55032 & 11 &14-1 &15, AS/NZS CISPR32 & 11 &14-1 &15, KN32 & 11 &14-1 &15, ICES-003 & ICES-005&ICES-001, FCC Part15 & 18, VCCI, GB/T9254, GB/T13837, GB/T17743, GB4343.1,GB 4824 |
功率輻射(Power Clamp) |
CISPR14-1,EN55014-1,AS CISPR14-1, GB4343.1, KN14-1; GB/T 13837 |
磁場輻射(Magnetic Emission) |
CISPR15, EN55015, AS/NZS CISPR15, GB/T17743 |
諧波電流(Harmonic) |
IEC/EN61000-3-2 |
電壓波動和閃爍(Flicker) |
IEC/EN61000-3-3 |
靜電放電(ESD) |
IEC/EN61000-4-2、GB/T17626.2 |
輻射抗擾度(R/S) |
IEC/EN61000-4-3、GB/T17626.3 |
脈沖群抗擾度(EFT/B) |
IEC/EN61000-4-4、GB/T17626.4 |
浪涌(SURGE) |
IEC/EN61000-4-5、GB/T17626.5 |
傳導抗干擾(C/S) |
IEC/EN61000-4-6、GB/T17626.6 |
工頻磁場(M/S) |
IEC/EN61000-4-8、GB/T17626.8 |
電壓跌落/中斷(DIPS) |
IEC/EN61000-4-11、GB/T17626.11 |
振鈴波(Ring wave) |
IEC/EN61000-4-12、GB/T17626.12 |
諧波、諧間波抗干擾 |
TEC/EN61000-4-13、GB/T17626.13 |
五、電磁兼容實驗室
測試場地 |
試驗項目 |
標準 |
備注 |
3m法全電波暗室 |
輻射發(fā)射 |
GB4824-2004(CISPR11-2003) GB9254-2008(CISPR22-2006) |
30MHz |
輻射抗擾度 |
GB17626.3-2006(IEC61000-4-3:2002) |
80MHz |
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傳導抗擾測量屏蔽室 |
電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗 |
GB17626.4 |
最高可達7kV |
射頻場感應的傳導騷擾抗擾度 |
GB17626.6 |
最高可達30V |
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電氣照明及類似設備插入損耗試驗 |
GB17743 |
9KHz-30MHz |
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電氣照明及類似設備輻射電磁騷擾試驗 |
GB17743 |
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諧波閃爍測量屏蔽室 |
諧波電流發(fā)射試驗 |
GB17625.1-2012(IEC 61000-3-2:2009) GB17625.6-2003(IEC 61000-3-4:1998) GB17625.7-2013 |
最高可達75A |
電壓變化、電壓波動和閃爍 |
GB17625.2-2007(IEC 61000-3-3:2005) GB17625.3-2000(IEC 61000-3-5:1994) |
最高可達100A |
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交流電源端口諧波抗擾度 |
GB17626.13-2006(IEC 61000-4-13:2002) |
最高可達100A |
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電壓波動抗擾度試驗 |
GB17626.14-2005(IEC 61000-4-14:2002) |
最高可達100A |
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直流紋波抗擾度 |
GB17626.17-2005(IEC 61000-4-17:2002) |
最高可達100A |
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三相電壓不平衡試驗 |
GB17626.27-2006(IEC 61000-4-27:2000) |
最高可達100A |
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工頻頻率變化抗擾度 |
GB17626.28-2006(IEC 61000-4-28:2001) |
最高可達100A |
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大于16A電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.34-2012(IEC 61000-4-34:2009) |
最高可達100A |
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直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.29-2006(IEC 61000-4-29:2000) |
最高可達100A |
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靜電放電測量屏蔽室 |
靜電放電抗擾度試驗 |
GB17626.2-2006(IEC 61000-4-2:2001) |
最高可達30kV |
電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.11-2008(IEC 61000-4-11:2004) |
最高可達100A;斷電(0-100%) |
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低頻共模傳導抗擾度 |
GB17626.16-2007(IEC 61000-4-16:2002) |
最高騷擾電平30V |
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瞬態(tài)抗擾測量屏蔽室 |
浪涌抗擾度 |
GB17626.5-2008(IEC 61000-4-5:2005) |
最高可達10kV |
阻尼振蕩磁場抗擾度 |
GB17626.10-1998(IEC 61000-4-10:1993) |
最高可達3kV;三相440V /100A; |
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振蕩波抗擾度試驗 |
GB17626.12-1998(IEC 61000-4-12:1995) |
最高可達3kV;三相440V /100A |
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工頻磁場抗擾度 |
GB17626.8-2006(IEC 61000-4-8:2001) |
短時可達1000A/m |
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脈沖磁場抗擾度 |
GB17626.9-2011(IEC 61000-4-9:2001) |
最高可達2000A/m |